CEM華盛昌DT-156涂層測厚儀使用說明書

CEM華盛昌DT-156涂層測厚儀使用說明書

1、儀器簡要說明

1、探頭

2、開關機按鍵

3、零校準鍵

4、向下或向右翻滾或遞增按鍵

5、藍色按鍵，在菜單模式下，用于退出、否、后退功能．或者在正常工作方式下，用于背光開關鍵

6、主顯示區

7、測量單位顯示

8、NFe：指示測量所得讀數為非鐵磁性金屬涂層讀數

Fe：指示測量所得讀數為鐵磁性金屬涂層讀數

9、指示探頭工作原理：AUTO方式下，根據測量基體自動選擇探頭工作

模式．F方式下只工作在磁感應原理．N方式下只工作在渦流原理．

10、指示儀表和計算機通信連接正常

11、USB連接端口

12、低電指示

13、儀表工作模式指示：直接模式

和組模式

14、統計值顯示：平均值Zzui大值Z

zui小可旬標準方差

15、測量數據統計數

16、紅色鍵在菜單模式下用于確定、

是、菜單進入等菜單操作功能．

17、向上或向左墅滾或遞減按鍵

2準備開始

2.1電源

按山按鍵開機．如果沒有州可動作和Lco顯示r請檢查是否裝好電池

或者可能電池已經耗盡，建議更換電池．如果顯示．標明電池快要耗

盡，此時儀表會在幾秒內自動關機，請更換電池后重新開始。

2.2替換電池

放置儀表于合適位置日背面朝上．您會看到電池盒固定螺tT，用合適梅

花螺絲刀扭出螺釘便可去掉電池盒蓋，拔掉電池并重新安裝新電池，之

后裝好電池盒蓋扭好螺釘，電池更換完成。

2.3菜單和基本設益

（注意：此章節，在以后所有章節都會提到，建議隨時查閱）開機后，儀表

處于測量模式，按紅色按鍵可以進入菜單模式，下面列舉了所有菜單項

目，了解各菜單項功能將有助于您順利完成各項工作：

2.3.1菜單>>探頭工作原理

>>統計值瀏覽>>根據基體自動選擇

>>平均值>>磁感應（適用鐵磁性基體）

>>zui小值>>渦流（適用非磁性金屬基體）

>>zui大值>>單位設置

>>統計數>>微米

>>標準方差>>英制單位（中國大陸地區一般不用此單位）

>>選項>>米

>>測量方法>>背光

>>單次測量>>開

>>連續測量>>關

>>工作模式>>測量模式下統計顯示選項

>>直接模式>>平均值

>>>組1工作模式>>>zui大值

>>>組2工作模式>>>zui小值

>>>組3工作模式>>>標準方差

>>>組4工作模式

>>自動關機設置

>>>自動關機功能開啟

>>>禁用自動關機

>>界限報警設置

>>界限設置

>>高限值設置

>>低限值設置

>>刪除恢復界限值設置到默認

>>刪除

>>刪除zui近測量數據

>>刪除當前工作組所有測量數據

>>刪除當前工作組所有測量數據同時刪除所有校準數據

>>測量值瀏覽

>>校準設置

>>使能一點和二點校準并進行LC。指示

>>禁用一點和二點校準并耽肖LC時旨云zui近完成的校準將劉艦懂有效

>>非鐵基體上零校準恢復出廠默認值

>>鐵基體上零校準恢復出廠默認值

2.3.2基本設置

請參考以上菜單安排，按照LCO指示，按紅色按鍵進行確認、是、菜單進入、選擇等功能操作。按藍色鍵進行退出、否、后退等功能操作。按向上或向下鍵翻滾選擇項。

2.3.2.1測量方式

連續測量法：此法適合探頭無需抬起而連續測量并觀察讀數的場合．此種情況下，蜂鳴只在探頭接觸到待測物件時鳴響一聲，之后將不再鳴響．布郭娜l量工作方式下，讀數被自動洲予流計計算直到存儲空可茜．

單次測量去：探頭垂直迅速的置于待測物件之上每測量一點同時伴隨一聲蜂鳴，讀數被顯示于LC0．必須提起探頭離州到可金屬物件scm以上，約1.5秒后方可進行下一次測量．每一次測量的數據和連續方式一樣將被保存和統計．

2.3.2.2探頭選擇

我們一體化探頭可以工作在三種模式下：

AUTO：探頭根據待測物件性質（鐵磁性物質或非鐵磁性金屬）自動轉入

相應工作模式。如果待測物件是鐵鎳等磁性金屬物質，探頭將轉入磁感

應原理工作模式．如果待測物件是非磁性的金屬物質，探頭將轉入渦

流原理工作模式．

Fe：探頭將是磁感應原理工作模式。

NO一Fe：探頭將是渦流原理工作模式。

2.3.2.3單位設置

您能方便的在公制（微米、毫米）和英制（mils）單位之間切換．請仔細閱讀菜單安排，按照屏幕提示操作．特別需要提醒的是，在”微米”單位下當讀數數值超過850微米時，單位將自動轉為”毫米”，這是由精度指標決定的，請閱讀儀表指標章節．

2.3.2.4總復位

總復位將擦除存儲器保存的所有數據，包括所有工作模式的讀數和設置

（恢復出廠默認），還有它們的統計值、校準值和上下限報警值。但是此操作不會影響出廠基本校準值，用戶可放心適用此功能。要進行總復位操作，操作如下：

a關機

同時按z〔RO＋山鍵．

LCD將顯示”sure to reset”此時按紅色鍵確定進行總復位，否則退出

按藍色鍵。儀表自動重新開機。

2.3.2.5背光

請看菜單安排章節，您可以通過菜單開關背光．此外，在正常測量模式

下，您可以按藍色按鍵一次以開關背光．

2.3.2.6LCD顯示統計設置

您可以通過菜單設置在工作模式下LcO顯示的統計選項（平均值、zui大

值、zui小值和標準方差），設置完成返回后，被設置的統計項目將顯示

statisticview”菜單項，您可以遍覽當下工作組所有統計值．

2.3.2.7讀數瀏覽

通過”Measurementview”菜單項，您可以瀏覽當前工作組所有測量

讀數。

2.3.2.8自動關機

請仔細閱讀菜單安排章節，您可以通過菜單關閉和開啟自動關機功能．

3測量、存儲和數據處理

儀表提供兩種工作模式二直接模式和組工作模式，其中組工作模式包括

組1一組4共4組。

直接測量模式（DIR）用于快速隨意測量．在此模式下，測量數據會臨時

保存在內存中，可以通過菜單瀏覽所有已存數據和統計值，但一旦關機、

系統掉電或者從直接模式切換到組工作模式，這些數據將全部自動丟

失．此模式下讀數、統計值和統計數被同時顯示在LcO上．此模式下，

zui多將統計80個數據，一旦超出，讀數將替換zui舊讀數并保存更

新統計值．此模式下，可以單獨進行一點和二點校準單獨設置高氏

界限報警。

組測量模式（GROI一4）二每一組工作模式下，系統可保存zui多80個數據、

5個統計值．一點二點校準和高氏界限報警可以單獨設置和保存．

關徹湘掉電，所有保存值不會丟失，并且組與組之間相互獨立不受影

響。需要刪除保存的值，可以通過菜單操作進行。當測量數據超出80

個，數據測量可以繼續進行，但是所得數據將不被保存和統計計算，如

有需要，您可以通過菜單刪除組數據，請仔細參閱菜單安排章節。

請通過菜單選擇當前工作組模式：DIR或GROI一4.

按山鍵同時探頭請遠離倒可金屬scm以上，開機后，儀表默認工作在

DIR模式下．LCO將佰封寺顯示zui近的測量讀數。

4校準和測量

4.1校準概述

4.1.1校準方法

我們擁有四種校準方法，敘述如下

基本校準：適用于測量光滑物件表面涂層，或者測量物件的材料、面積

和曲葬和我們隨機附帶基體接近．

零點校準二建議開始任間一項測量任務前都進行零點校準，測量中途出

現可疑誤差，也可隨時作歸零操作。

一點校準二預先估計待測量涂層厚度，使校準點盡量靠近待測厚度，可

以有效實現高精度測量。此校準方法可以輕松地使測量誤差控制在

士（1％…3%)+1um/1.sum（傳感器自身系統誤差）

二點校準二和一點校準相可以盡量使待測涂層厚度范圍與兩點校準點

接近，以更州蟹正待測范圍內的誤差。該校準用于粗糙表面涂層測量

和高精度的光滑涂層表面測量。

4.1.2校準值保存

在伯日可模式下，您所完成的校準數據都自動保存，所有的測量創冬以zui

新的校準為準修正誤差。同時，如果發現校準值明顯有誤可以通過菜

單刪除組數據方式”Groupdata”恢復到出廠默認．具體請參閱有關

章節。

提示：校準讀數在以下情況，您必須重新校準，否則可能測量有誤．

--明顯不正確的讀數

--校準時儀表關機

4.1.3校準實例

校準是影響測量精度的關鍵因素．測量必須校準，校準樣本越接

近被測樣本，校準和測量就越準確。例如：如果被測樣本是一個直徑為

6mm的低碳鋼柱那么無涂層校準樣本的直徑和材料也應該盡量相同．

標準樣本必須在下列幾點上與被測樣本相符：

表面曲率半徑

基體材料

基體厚度

被測面積

標準樣本上，校準點位置盡量與產品的測量點一致，尤其測量于小樣本

或邊角位置，此時用精密支架定位。

4.1.4高精度測量校準

為得到高精度測量，校準時，建議在每一點上做多次反復校準，這樣儀器

會自動用其平均校準值作為zui終校準低詳見4.2這種方法在非平滑，

例如噴丸表面，非常實用。

4.1.5清潔測點

校準前，測量和探頭頂部的油漬，金屬屑物等必須清除干凈，少量的雜質

也會影響測量，改變讀數．

4.2校準特別提示

對于大多數應用場合，基本校準（出廠默認校準），我們不建議做任間調整．

為了避免誤操作，本說明書省去了此章節，若用戶使用中，通過零點校準，

一點校準或二點校準，仍然不能解決問題，請致電售后服務，我們將為您

提供。

通過以下方法，您可以進入一點和二點校準模式，根據屏幕提示，您可以

正確完成校準：

首先，通過菜單選擇校準模式（Menu一＞Calibration一＞〔nable),Lc劇各

會顯示”CaIn(0rl一2)Zeron(ory):"n”表示沒有川可點校準（前者）

或沒有零校準（后者）,"y”表示已進行過零校準（當前測量是以此零點為

準）。”Ca!1一2”表示有1到2個校準點（1表示一點校準，2表示兩點校準）.

提示：零點校準可以不用進入此校準模式，在測量模式，探頭置于待測無

涂層基體表面，得到測量值后提起，按住Z〔RO按鍵，聽到嘀一聲響后松

開便成功進行一次歸零操作，如此反復操作可川導到一個零校準平均值，

可有效防止零點校準偶然誤差．

雖然在校準模式同樣可以正確測量，但為避免誤校準操作，完成校準后，

我們建議通過MUN〔菜單相關設置退出校準模式．進入測量模式后，所

有數據測量都將以的零校準、一點或二點校準為準，對數據進行修

正，顯示和保存修正后的數值．

校準前的準備工作：

開機遠離州可金屬至少5厘米以上，遠離強電磁場。

待測基體和必要的校準箔片（可用隨機附帶的5種規格薄片）.

設置工作模式：通過菜單系統設置連續或單次測量模式。

4.2.1零點校準（無剩到可校準箔）

把探頭快速垂直地放在無涂層基體上．

LC顯示＜x.xum>，在連續方式和單一方式下測量方式稍有不同，在本

說明書之前已有介紹．正確得到數據后，迅速抬起探頭離開基體至少

5厘米以上。

然后，按住2ERO鍵約1.5秒，LC顯示0.0um，校準完成．

可重復以上步驟幾次，校準系統會自動計算和使用其平均值．

注意：

有時，在進行零校準之前，有必要通過菜單刪除舊的零校準點（具體菜單

項，可參看前面章節）。因為，我們所用的零校準實際上是zui多5次零校

準的平均值．按照以上步驟每完成一次，就保存一個零校準值，當超過

5次后，zui舊的值將被的替換，如此依次，系統自動將用zui近5次校

準值計算平均得到實際零校準值．試想，如果這些操作中，有一次大的

誤差操作，肯定對zui后平均值影響很大，如果做一次刪除操作，系統將所

有參數歸O，當然就不存在這個問題了。另外，重新開關機也可得到和刪

除同樣的效果。

4.2.2一點校準

此方法用于較高精度測量．

零點校準請參見4.2.1.

將校準箔片放在無涂層基體上，得到穩定數據后提起探頭。按Up或者

OOWN調節顯示值至所測箔片厚度。

重復幾次以上步驟，校準系統會計算平均值作為zui終校準值．

使用校準值試測量。

必要時需要刪除校準例如輸入一個錯誤的圈直時進入M〔NU一＞delete

一＞delete group data．注意：這將會刪除所有測量存儲數據、上下限

報警數據，一點和兩點校準數據，但此操作不影響零點校準數據．刪除

所有數據后，出廠基本校準可以保證一定誤差范圍內的測量，用戶不必

擔心誤操作．若高精度測量，請重新做一點或二點校準．

特別提示二

請仔細觀察屏幕，"CalxZerox”之前黑色方塊，每次按Up或者OOWN

鍵一次，它將重新開始計時，在305時間內，你可以按一下藍色的按鍵取

消當前點校準．在此時間內，對于當前點校準，儀器可以容納5次校準值

并自動計算平均值作為zui終校準值，當滿5次后的校準值會替換zui

 舊的校準值，此和零點校準非常相似，可參考零點校準．305后，對此點

的校準將正式生效左邊黑色方塊自動消失，或者提前按ZERO一次，可

使當前點校準強制生效．即使長期進行一系列的連續測試工作，校準也

是有必要經常考慮的，它直接影響測量準確性。

4.2.3兩點校準

建議在單次測量方式下進行，請通過菜單轉換工作方式．兩點校準需要

使用2個不同的箔片．請粗略估測您實際工作需要測量的厚度范圍，此

范圍不宜過大，范圍越小，能獲得的測量精度越高．然后選擇兩點校準

所需要的2個不同厚度標準箔片，此兩標準箔片厚度盡量靠近并包含實

際工作需要測量的厚度測量范圍。此方法尤其適用于非平滑，例如噴丸

表面或用于高地測量。校準步驟如下：

零點校準．參見4.2.1

一點校準．參見4.2.2

重復步驟2。

使用校準值試測量。

說明二二點校準實際上就是兩次一點校準。如果系統只存入了一點的校

準值，則修正方式就是一點修正方式，若再次存入一點校準，則修正方式

自動成為二點修正方式．zui后實際顯示和存儲的讀值則是基本校準下

所得數據加零點修正、一點或者二點修正值，注意，一點和二點校準不

會同時存在。

4.2.4噴丸表面校準方法

噴丸表面的物理性質會導致讀數偏差，平均覆層厚度可用下面的方法確

定（統計程序在這里非常有用）二

方法一：

按照4.2.2或者4.2.3的方法校準儀表．校準基體選擇光滑且曲率半徑

和基體材料與待測試件相近．

在無覆層的經過同樣噴丸處理的表面測量10次左右，得到一個平均值，

記作XO。

在有涂層的噴丸的被測樣本上測10次得到平均值Xm.

Xm與Xo的差（Xm一Xo）土S就是平均覆層厚度，其中S是Xm與XO兩者

標準方差中的較大者．

方法二：

無涂層噴丸基體上進行多次零校準。然后在無涂層的基體上，用一片

校準箔做一點校準。該箔片可由數片SOum的箔片組成箔厚盡量與

預計涂層厚度接近。

測量待噴丸涂層厚度此厚度應為5一10個單次測量結果的平均值．統

計程序在這里非常有用．

方法三二

此種方法測量的結果也十分可靠．如4.2.3所述，只需使用兩個箔片，進

行2點校準。為了zui大程度地接近各自被測表面的性質，箔片的厚度可

以通過使用多片每片厚度為50um的校準箔片疊加得到。厚度測量結

果應為5一10個單次測量結果的平均值。

注意：對于大于30Oum的涂層，粗糙程度的影響并不十分重要且沒有必

要使用上述校準方法．

4.3測量中的計算方法

仔細校準以后，所有測量偏差將會在洲門承諾的誤差范圍之內。發電機

等大功率電器設備附近的強磁場會影響讀數，建議盡量遠離。當使用統

計程序獲取平均值的時候建議將探頭放置于具有典型意義的測點上連

續測量多次。可通過菜單系統刪除任何錯誤或者不符讀數。zui終的讀

數由統計程序和翻門承諾的測量誤差范圍共同決定，如下所述．

涂層厚度D=X±s±u

例如

讀數

讀數：150um,156um,153um

平均值：X=153um

標準偏差    S＝士3Um

測量偏差    u＝土（3%ofreading+lum)

D=153士3±(4.59um+lum)

=153土8.59um

5上下限報警功能

無論在直接（DIR）工作方式，還是在組工作方式（GRO)，數據測量的州可

時候，您可以進入MUNE菜單設置上下限（具體請看菜單章節），一旦設

置成功，測量數據超出此限范圍的時候，屏幕拱并良警提示：

H：讀數超過zui高限額

L：讀數超過zui低限額

6測量中的統計數據

厚度統計數據zui多可統計80個讀數（GROI~GRO4：總共zui多可儲存

4x80=320個讀數）．此外，在DIR模式除了讀數不存儲外，其化湘GRO

模式相同。

NO：二開機以來進行統計的讀數個數

AVG：平均值

Sdev：標準方差

MAX：zui大讀數

MIN：zui小讀數

6.1統計條例

平均值（X)

讀數之和除以讀數的個數X＝X/n

標準方差（Sdev.)

標準方差表征讀數的分散度．讀數越分散標準方差就越大，標準方差

是方差S2的平方根．

偏差S2=E(X-x）/(n-1）

標準偏差S=S2開平方

注意：當出現異常或不確定測量值時應馬上刪除，請查看M〔NU中的刪

除功能。

6.2存儲益處

在組測量模下，如果超出存儲能力（80個數據存儲），測量仍可繼續進行，

但所有數據不計入統計．在單次測量方式下，如果存儲器已滿，LcO顯

示屏上會顯示”「ULL”字樣。

直接測量模式下，如果存儲器已滿，數據會自動代替zui舊的數據，統

計值仍繼續更新。

刪除功能

刪除zui后一個讀數：如果你發現測試結果不正確，你可以通過此功能刪

除zui后一個讀數。同時，統計數據會自動更新。

刪除所有數據二你可以刪除當前工作模式下的所有統計數據。

全部刪除二這一功能會刪除該組所有測量值、統計值、校準值、上下限

報警設置值。

以上功能，具體操作，請參看菜單章節．

傳輸數據至計算機

所有工作模式下的測量數據都可以通過USB口下載到電腦進行數據分

析，詳情請查看配套軟件相關指南。

注意：建議在儀器與電腦連接時不做州可測量。

故障排除

下面的故障符號可提示如何去識別和排除故障。

Errl：渦流探頭有異常

Err2：磁感應探頭有異常

Err3：兩探頭均有異常

Err4,5,6：保留未使用

Err7：二厚度測量結果錯誤